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一种提高薄膜厚度测量灵敏度的方法

胡秀丽 游佰强 于海涛

胡秀丽, 游佰强, 于海涛. 一种提高薄膜厚度测量灵敏度的方法[J]. 材料开发与应用, 2010, 25(5): 98-101. doi: 10.19515/j.cnki.1003-1545.2010.05.026
引用本文: 胡秀丽, 游佰强, 于海涛. 一种提高薄膜厚度测量灵敏度的方法[J]. 材料开发与应用, 2010, 25(5): 98-101. doi: 10.19515/j.cnki.1003-1545.2010.05.026
HU Xiu-li, YOU Bai-qiang, YU Hai-tao. A Method to Increase the Sensitivity of Film Thickness Testing[J]. Development and Application of Materials, 2010, 25(5): 98-101. doi: 10.19515/j.cnki.1003-1545.2010.05.026
Citation: HU Xiu-li, YOU Bai-qiang, YU Hai-tao. A Method to Increase the Sensitivity of Film Thickness Testing[J]. Development and Application of Materials, 2010, 25(5): 98-101. doi: 10.19515/j.cnki.1003-1545.2010.05.026

一种提高薄膜厚度测量灵敏度的方法

doi: 10.19515/j.cnki.1003-1545.2010.05.026
详细信息
  • 中图分类号: TQ637.2

A Method to Increase the Sensitivity of Film Thickness Testing

  • 摘要: 针对薄膜材料厚度无损测试技术,提出一种三电极平行板电容传感器薄膜测厚方法。具体采用了三电极平行板电容器结构,该电容传感器含有三个相同的几何尺寸是毫米级的平板电极探头,电极之间的间距可变。依据电容原理和保角变换方法建立理论模型。通过Fortran语言编写算法,将得出的计算结果与传统方法进行比较。结果表明用此方法检测薄膜厚度变化,不仅继承了传统电容测厚技术具有的结构简单,操作快捷,便于控制,低功耗,低成本等优点,还大大提高了薄膜厚度检测的灵敏度。

     

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出版历程
  • 收稿日期:  2010-07-23
  • 网络出版日期:  2024-03-29

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